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善时iEDX-150T镀层测厚仪

ISP iEDX-150T镀层测厚仪;采用非真空样品腔;专业用于PCB电镀镀层分析、PCB镀层厚度测量及金属电镀镀层分析;采用多种光谱拟合分析处理技术;可增加合金成份分析及RoHS功能应用领域 iEDX-150T镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域;技术指标多镀层分析,1~5层;测试精度:0.001 μm;元素分析范围从铝(Al)到铀(U);测量时间:10~30秒;SDD探测器,能量分辨率为125

  • 型号: iEDX-150T
  • 品牌: SENSE
  • 联系: 15036119371

ISP iEDX-150T镀层测厚仪;
采用非真空样品腔;
专业用于PCB电镀镀层分析、PCB镀层厚度测量及金属电镀镀层分析;
采用多种光谱拟合分析处理技术;
可增加合金成份分析及RoHS功能

应用领域

iEDX-150T镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域;

技术指标

多镀层分析,1~5层;

测试精度:0.001 μm;

元素分析范围从铝(Al)到铀(U);

测量时间:10~30秒;

SDD探测器,能量分辨率为125±5eV;

探测器Be窗0.5mil(12.7μm);

微焦X射线管50kV/1mA,钼,铑靶(高配微焦钼靶);

6个准直器及多个滤光片自动切换;

XYZ三维移动平台,MAX荷载为5公斤;

高清CCD摄像头(200万像素),准确监控位置;

多变量非线性去卷积曲线拟合;

高性能FP/MLSQ分析;

仪器尺寸:618×525×490mm;

样品台尺寸:250×220mm;

样品台移动范围:前后左右各80mm、高度90mm。

图谱界面

软件支持无标样分析;

宽大分析平台和样品腔;

集成了镀层分析界面和合金成份分析界面;

采用多种光谱拟合分析处理技术;

镀层测厚分析精度可达到0.001μm。

分析报告结果

直接打印分析报告;
报告可转换为PDF,EXCEL格式。

150T样品分析图谱

测试结果界面:

150T测试结果



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